Ciri-ciri:
- Tahan lama
- Sisipan Rendah
- Kerugian VSWR Rendah
+86-28-6115-4929
sales@qualwave.com
Prob gelombang mikro ialah peranti elektronik yang digunakan untuk mengukur atau menguji isyarat atau sifat elektrik dalam litar elektronik. Ia biasanya disambungkan kepada osiloskop, multimeter atau peralatan ujian lain untuk mengumpul data tentang litar atau komponen yang diukur.
1. Prob Ketuhar Gelombang Mikro Tahan Lama
2. Tersedia dalam empat jarak 100/125/150/250/300/400 mikron
3. DC ke 110GHz
4. Kerugian sisipan kurang daripada 1.5dB
5. VSWR kurang daripada 2dB
6. Bahan tembaga berilium
7. Versi arus tinggi tersedia (4A)
8. Lekukan ringan dan prestasi yang boleh dipercayai
9. Hujung probe aloi nikel anti pengoksidaan
10. Konfigurasi tersuai tersedia
11. Sesuai untuk ujian pada cip, pengekstrakan parameter simpang, ujian produk MEMS dan ujian antena pada cip bagi litar bersepadu gelombang mikro
1. Ketepatan dan kebolehulangan pengukuran yang sangat baik
2. Kerosakan minimum yang disebabkan oleh calar pendek pada pad aluminium
3. Rintangan sentuhan tipikal<0.03Ω
1. Ujian litar RF:
Prob gelombang milimeter boleh disambungkan ke titik ujian litar RF, dengan mengukur amplitud, fasa, frekuensi dan parameter isyarat lain untuk menilai prestasi dan kestabilan litar. Ia boleh digunakan untuk menguji penguat kuasa RF, penapis, pengadun, penguat dan litar RF yang lain.
2. Ujian sistem komunikasi tanpa wayar:
Kuar frekuensi radio boleh digunakan untuk menguji peranti komunikasi tanpa wayar, seperti telefon bimbit, penghala Wi-Fi, peranti Bluetooth, dan sebagainya. Dengan menyambungkan kuar gelombang mm ke port antena peranti, parameter seperti kuasa penghantaran, kepekaan penerimaan, dan sisihan frekuensi boleh diukur untuk menilai prestasi peranti dan membimbing penyahpepijatan dan pengoptimuman sistem.
3. Ujian antena RF:
Probe sepaksi boleh digunakan untuk mengukur ciri-ciri sinaran antena dan impedans input. Dengan menyentuhkan prob RF pada struktur antena, VSWR (nisbah gelombang berdiri voltan), mod sinaran, gandaan dan parameter lain antena boleh diukur untuk menilai prestasi antena dan menjalankan reka bentuk dan pengoptimuman antena.
4. Pemantauan isyarat RF:
Probe RF boleh digunakan untuk memantau penghantaran isyarat RF dalam sistem. Ia boleh digunakan untuk mengesan pelemahan isyarat, gangguan, pantulan dan masalah lain, membantu mencari dan mendiagnosis kerosakan dalam sistem, dan membimbing kerja penyelenggaraan dan penyahpepijatan yang sepadan.
5. Ujian keserasian elektromagnet (EMC):
Prob frekuensi tinggi boleh digunakan untuk menjalankan ujian EMC bagi menilai kepekaan peranti elektronik terhadap gangguan RF di persekitaran sekitar. Dengan meletakkan prob RF berhampiran peranti, adalah mungkin untuk mengukur tindak balas peranti terhadap medan RF luaran dan menilai prestasi EMCnya.
QualwaveInc. menyediakan prob frekuensi tinggi DC~110GHz, yang mempunyai ciri-ciri hayat perkhidmatan yang panjang, VSWR yang rendah dan kehilangan sisipan yang rendah, serta sesuai untuk ujian gelombang mikro dan kawasan lain.

| Prob Port Tunggal | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Nombor Bahagian | Frekuensi (GHz) | Pitch (μm) | Saiz Hujung (m) | IL (dB Maks.) | VSWR (Maks.) | Konfigurasi | Gaya Pemasangan | Penyambung | Kuasa (W Maks.) | Masa Pendahuluan (minggu) |
| QSP-26 | DC~26 | 200 | 30 | 0.6 | 1.45 | SG | 45° | 2.92mm | - | 2~8 |
| QSP-26.5 | DC~26.5 | 150 | 30 | 0.7 | 1.2 | GSG | 45° | SMA | - | 2~8 |
| QSP-40 | DC~40 | 100/125/150/250/300/400 | 30 | 1 | 1.6 | GS/SG/GSG | 45° | 2.92mm | - | 2~8 |
| QSP-50 | DC~50 | 150 | 30 | 0.8 | 1.4 | GSG | 45° | 2.4mm | - | 2~8 |
| QSP-67 | DC~67 | 100/125/150/240/250 | 30 | 1.5 | 1.7 | GS/SG/GSG | 45° | 1.85mm | - | 2~8 |
| QSP-110 | DC~110 | 50/75/100/125/150 | 30 | 1.5 | 2 | GS/GSG | 45° | 1.0mm | - | 2~8 |
| Prob Dua Port | ||||||||||
| Nombor Bahagian | Frekuensi (GHz) | Pitch (μm) | Saiz Hujung (m) | IL (dB Maks.) | VSWR (Maks.) | Konfigurasi | Gaya Pemasangan | Penyambung | Kuasa (W Maks.) | Masa Pendahuluan (minggu) |
| QDP-40 | DC~40 | 125/150/650/800/1000 | 30 | 0.65 | 1.6 | SS/GSGSSG | 45° | 2.92mm | - | 2~8 |
| QDP-50 | DC~50 | 100/125/150/190 | 30 | 0.75 | 1.45 | GSSG | 45° | 2.4mm | - | 2~8 |
| QDP-67 | DC~67 | 100/125/150/200 | 30 | 1.2 | 1.7 | SS/GSSG/GSGSSG | 45° | 1.85mm, 1.0mm | - | 2~8 |
| Prob Manual | ||||||||||
| Nombor Bahagian | Frekuensi (GHz) | Pitch (μm) | Saiz Hujung (m) | IL (dB Maks.) | VSWR (Maks.) | Konfigurasi | Gaya Pemasangan | Penyambung | Kuasa (W Maks.) | Masa Pendahuluan (minggu) |
| QMP-20 | DC~20 | 700/2300 | - | 0.5 | 2 | SS/GSSG/GSGSSG | Pemasangan Kabel | 2.92mm | - | 2~8 |
| QMP-40 | DC~40 | 800 | - | 0.5 | 2 | GSG | Pemasangan Kabel | 2.92mm | - | 2~8 |
| Prob TDR Pembezaan | ||||||||||
| Nombor Bahagian | Frekuensi (GHz) | Pitch (μm) | Saiz Hujung (m) | IL (dB Maks.) | VSWR (Maks.) | Konfigurasi | Gaya Pemasangan | Penyambung | Kuasa (W Maks.) | Masa Pendahuluan (minggu) |
| QDTP-40 | DC~40 | 0.5~4 | - | - | - | SS/GS | - | 2.92mm | - | 2~8 |
| Substrat Penentukuran | ||||||||||
| Nombor Bahagian | Pitch (μm) | Konfigurasi | Pemalar Dielektrik | Ketebalan | Dimensi Garis Besar | Masa Pendahuluan (minggu) | ||||
| QCS-50-150-GSG-A | 50-150 | GSG | 9.9 | 25 juta (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
| QCS-75-250-GS-SG-A | 75-250 | GS/SG | 9.9 | 25 juta (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
| QCS-100-GSSG-A | 100 | GSSG | 9.9 | 25 juta (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
| QCS-100-250-GSG-A | 100-250 | GSG | 9.9 | 25 juta (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
| QCS-250-500-GSG-A | 250-500 | GSG | 9.9 | 25 juta (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
| QCS-250-1250-GSG-A | 250-1250 | GSG | 9.9 | 25 juta (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||